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产品简介
用于反射模式测量的TeraSpike太赫兹近场探针组合已扩展到两个新型号：TSR.75和TSR-TT.75。新系列的太赫兹近场收发器探头现在服务于更广泛的应用场景，从体积检查（TR.5）、具有更高空间分辨率的近表面体积检查（TSR.75）和具有最大空间分辨率的表面扫描（TSR-TT.75）开始。虽然基本上所有TR系列太赫兹反射式近场探头也可用于穿透方式的操作，但是TSR-TT.75型号是在最高空间分辨率方面最适合这种模式。
TR系列利用Protomics专有的“陷波器”“WT选项”设计来抑制太赫兹近场探头内部反射信号，以及XR型柔性悬臂设计来提高机械稳定性。我们的收发器探头提供亚波长分辨率和最短THz传输路径。
太赫兹反射式近场探针型号对照表
| 型号 TD-800- | 操作方式 | 天线数量 | 入射角度 | 太赫兹带宽 | 空间分辨率 |
| TR.5 | 反射 | 2 | 0 | 1.5THz | 250um |
| TSR.75-PCS10-50 | 反射 | 2 | 15 | 3THz | 100um |
| TSR-TT.75-PCS10-50 | 反射和透射 | 1 | 0 | 2THz | 40um |
反射式太赫兹近场探针：TD-800-TR.5
新的TeraSpike型号TR.5配备了一对紧密间隔的光导太赫兹天线，为反射模式下的高性能近场测量提供了新的手段。一个天线用作发射太赫兹脉冲发射器，另一个天线则用作探测器。超薄太赫兹近场收发器探头利用Protematics专有的“陷波器”设计来抑制探头内部反射信号，以及XR型柔性PET悬臂设计来提高机械强度。与基于远场发射器/探测器组件的标准反射模式方法不同，新的近场收发器探头提供了亚波长分辨率和最短THz传输路径的访问。
TD-800-TR.5太赫兹近场探针参数
型号 | TD-800-TR.5 |
暗电流@ 1 V Bias | < 1.5 nA |
光电流@ 1 V Bias | > 0.5 µA |
激发波长 | 700 .. 860 nm |
平均激发功率 | 0.1 .. 4 mW |
连接方式 | 2x SMP |
反射式太赫兹近场探针：TD-800-TSR.75-PCS10-50
TSR.75-PCS10-50太赫兹近场探针参数表
| 型号 | TD-800-TRS.75-PCS10-50 |
| 最大空间分辨率 | 100 µm |
| 暗电流@ 1 V Bias | < 10 nA (typ. < 1.5 nA) |
| 光电流@ 1 V Bias | >0.1 µA (typ. >0.25 µA) |
| 激发波长 | 700 .. 860 nm |
| 平均激发功率 | 0.1 .. 3 mW |
| 连接方式 | 2x SMP |
TR系列太赫兹近场探针主要对横向于探针尖端轴的THz电场分量敏感，如上图中x轴方向所示。
佛罗里达网络安全研究所（FICS）Asadi博士团队提供的IC样本。基于Protamics软件包Teraloc的堆叠界面和掩埋结构定位-针对TeraSpike太赫兹近场探针进行了优化。
反射式太赫兹近场探针：TD-800-TSR-TT.75
TD-800-TRS-TT.75太赫兹近场探针设计示意图
TD-800-TRS-TT.75太赫兹近场探针参数表
| 型号 | TD-800-TRS-TT.75-PCS10-50 |
| 最大分辨率 | 40 µm |
| 暗电流@ 1 V Bias | < 10 nA (typ.<1.5 nA) |
| 光电流@ 1 V Bias | >0.1 µA (typ. >0.25 µA) |
| 激发波长 | 700 .. 860 nm |
| 平均功率 | 0.1 .. 3 mW |
| 连接方式 | 2x SMP |
应用示例（薄膜检测）
太赫兹测试目标P-TTT-2-1200，铬层厚度为10 nm和50 nm，分别相当于约250欧姆和50欧姆的薄层电阻。